ページの先頭です。
本文へジャンプする。

本ウェブサイトでは、JavaScriptおよびスタイルシートを使用しております。
お客さまがご使用のブラウザではスタイルが未適応のため、本来とは異なった表示になっておりますが、情報は問題なくご利用いただけます。

NEC NECパーチェシングサービス

ここからサイト内共通メニューです。
サイト内共通メニューを読み飛ばす。
サイト内共通メニューここまで。
サイト内の現在位置を表示しています。
ホーム > 計測・生産システム開発 > ソリューション > 光部品/光増幅器特性試験装置
電話によるお問い合わせ
  • 042-354-2758

お問い合わせ
ページ共通メニューここまで。

光部品/光増幅器特性試験装置

光部品/光増幅器の光学特性を高精度で効率的に検査する装置をご提案します。

情報通信のトラフィック量は、インターネットの利用拡大、コンテンツの多様化・大容量化により、益々増加しています。これを支える光通信機器も、さらなる高速化、広帯域化、高品質化が求められています。光部品/光増幅器特性試験装置は、部品または製品レベルでの利得(又は損失)、平坦度、偏光依存性など各種光伝送特性を測定します。

システム構成イメージ

光部品/光増幅器の伝達/増幅特性を高精度に検査する装置です。
0.1dB以下の高精度測定を実現するために、低偏光依存性損失、高精度切替再現性の光カプラ、光セレクタなど、光学部品を厳選して測定系を構成します。
さらに測定経路毎の損失および波長依存性データを自動的に取得し、測定条件や測定結果に反映する測定系校正機能を盛込んでいます。



光部品/光増幅器特性試験装置システム構成イメージ


システムの特徴

主な測定項目 測定精度
利得、損失 ±0.1dB
利得平坦度 ±0.02dB
雑音指数 ±0.2dB
偏光依存性(利得、損失) ±0.02dB
アイソレーション ±0.2dB
後方散乱光損失 ±0.2dB
反射減衰量 ±1.0dB

ページの先頭へ戻る

Copyright NEC Purchasing Service, Ltd. All rights reserved.